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    WEEKLY DEEP TECH BRIEFING

    週刊ディープテック・ダイジェスト

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    Devices 2008年設立 本社:浙江省杭州市浜江区 半導体テスト装置(テストハンドラー・ウェハー探針台 / プローバー・ATEテストシステム・AOI検査)

    長川科技(Changchuan Technology / チャンチュアン)

    Hangzhou Changchuan Technology Co., Ltd. · 杭州长川科技股份有限公司

    半導体後工程(バックエンド)の検査・テスト設備において、中国トップのシェアを誇る総合テスト装置メーカー。趙軼(Zhao Yi)が2008年に杭州で創業。かつて日本のアドバンテストや東京精密、米テラダインが独占していた半導体テスト市場において、IC平移式・重力式分選機(ハンドラー)で頭角を現し、12インチ全自動三温ウェハー探針台(プローバー S2000シリーズ)やSoC・数模混合テストシステム(CTA8280シリーズ)を次々と量産化。江蘇長電(JCET)、通富微電、華天科技ら中国OSAT大手およびSMICに深く食い込み、シンガポールSTI社の買収を通じて光学外観検査(AOI)を垂直統合した。

    日本のビジネス視点(Japan Perspective)

    半導体テスト装置(ATE)の世界絶対王者であるアドバンテスト(Advantest)、ウェハー探針台で世界シェアを二分する東京精密(ACCRETECH)や東京エレクトロン(TEL)、ICハンドラーのセイコーエプソンに対する中国市場での直接の対抗馬。テストタクトタイムと高並列測定能力、三温(極低温〜超高温)環境制御を巡り、激しいシェア攻防が繰り広げられています。

    分析・報道記事一覧

    全 1 本

    アドバンテストに迫る半導体テスト:長川科技、後工程の現実

    半導体の出荷品質と良品選別を握る後工程テスト装置。アドバンテストや米テラダイン、東京精密が世界を牛耳る市場で、中国初となる12インチ三温プローバーやICハンドラーを量産化した杭州の長川科技(Changchuan)。中国OSAT大手への浸透と、最先端SoC高速テストが突きつける高い壁を解剖する。